检测镁合金薄板化学成分的方法有很多，以下是一些常见的方法：
滴定分析法：通过已知浓度的标准溶液与被测物质进行化学反应，根据反应达到化学计量点时所消耗标准溶液的体积，计算出被测物质的含量。例如，用 EDTA 滴定法测定镁合金中的镁含量，利用 EDTA 与镁离子形成稳定络合物的特性，以铬黑 T 为指示剂，根据滴定终点颜色的变化确定镁离子的含量。
重量分析法：将被测组分从试样中分离出来，转化为一定的称量形式，然后通过称量其质量来计算被测组分的含量。比如，测定镁合金中的硅含量时，可将硅转化为硅酸沉淀，经过过滤、洗涤、灼烧后，以二氧化硅的形式称重，从而计算出硅的含量。
光谱分析法
原子发射光谱法（AES）：利用物质在热激发或电激发下，每种元素的原子或离子发射特征光谱来判断物质的组成，进而测定各元素的含量。镁合金薄板样品在激发光源的作用下，原子被激发到高能态，当回到基态时会发射出特征光谱，通过检测这些光谱线的强度和波长，可确定合金中各种元素的种类和含量。
原子吸收光谱法（AAS）：基于气态的基态原子外层电子对紫外光和可见光范围的相对应原子共振辐射线的吸收强度来定量被测元素含量。在检测镁合金中的微量元素如铁、铜等时，将样品溶液喷雾到火焰或石墨炉等原子化器中，使元素原子化，然后用相应元素的空心阴极灯作为光源，测量原子对特定波长光的吸收程度，从而得出元素的含量。
X 射线荧光光谱法（XRF）：用 X 射线照射样品，使样品中的元素产生特征荧光 X 射线，根据荧光 X 射线的波长和强度来确定元素的种类和含量。该方法可对镁合金薄板进行无损检测，能快速、同时测定多种元素，常用于生产线上的快速检测和质量控制。
质谱分析法
电感耦合等离子体质谱法（ICP - MS）：将样品溶液通过雾化器转化为气溶胶，进入电感耦合等离子体中被离子化，然后利用质谱仪对离子进行分离和检测。它具有灵敏度高、检测限低、可同时测定多种元素等优点，能够准确测定镁合金薄板中痕量和超痕量元素的含量，如锂、铍等元素。
其他分析法
火花直读光谱法：以火花放电为激发光源，使样品中各元素发射出特征光谱，通过光电倍增管等检测器测量光谱线的强度，进而计算出元素的含量。该方法分析速度快，可在短时间内对多个元素进行同时测定，广泛应用于镁合金生产过程中的快速分析和质量控制。
能量色散 X 射线光谱法（EDS）：通常与扫描电子显微镜（SEM）或透射电子显微镜（TEM）联用，当电子束轰击样品时，样品中的元素会产生特征 X 射线，EDS 通过检测这些 X 射线的能量和强度来确定元素的种类和相对含量。它可以对镁合金薄板的微观区域进行化学成分分析，了解元素在不同相或微区中的分布情况。